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结构光投影在反光表面测量中的应用难点

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发表于 2026-4-10 16:46:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
结构光投影技术常用于获取物体三维形貌,但在高反光表面(如金属、镜面、涂漆件)上面临严峻挑战:

1)镜面反射导致条纹信息丢失——投影光被反射到相机视场外;
2)高光区域过曝——条纹图案无法识别;
3)多次反射造成伪条纹——干扰相位解算;
4)表面渐变反射率——条纹对比度不均匀。

讨论要点:
1)是否有针对反光表面的特殊投影模式?
2)多次曝光HDR在结构光中的效果如何?
3)偏振结构光的可行性?
4)基于镜面反射模型的算法有哪些?

欢迎分享实际项目中的经验。
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